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平面平晶標(biāo)準(zhǔn)圖譜
日期:2025-06-09 13:01
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摘要:
平面平晶標(biāo)準(zhǔn)圖譜
具有兩個(gè)(或一個(gè))光學(xué)測(cè)量平面的正圓柱形或長方形的量規(guī)。光學(xué)測(cè)量平面是表面粗糙度數(shù)值和平面度誤差都極小的玻璃平面,它能夠產(chǎn)生光波干涉條紋(見激光測(cè)長技術(shù))。平晶有平面平晶和平行平晶兩種。平面平晶用于測(cè)量高光潔表面的平面度誤差,為用平面平晶檢驗(yàn)量塊測(cè)量面的平面度誤差。平行平晶的兩個(gè)光學(xué)測(cè)量平面是相互平行的,用于測(cè)量兩高光潔表面的平行度誤差,例如千分尺兩測(cè)量面的平行度誤差.平晶用光學(xué)玻璃或石英玻璃制造。圓柱形平面平晶的直徑通常為 45~150毫米。其光學(xué)測(cè)量平面的平面度誤差為:1級(jí)精度的為0.03~0.05微米;2級(jí)精度的為0.1微米。常見的長方形平面平晶的有效長度一般為200毫米。
平面平晶:是以光波干涉原理為基礎(chǔ),利用平晶的測(cè)量面與試件的被測(cè)量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來測(cè)量被測(cè)量面的平面度。
平面平晶:用于檢定量塊的研合性和平面度以儀器和量具的測(cè)量面、工作面的平面度,例如,平面光學(xué)零件、**平臺(tái)、平板、導(dǎo)軌、密封件等。亦可用于檢定高精度的平面零件。
平面平晶:特別適用于計(jì)量單位、實(shí)驗(yàn)室作為標(biāo)準(zhǔn)平面和樣板。

