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平晶干涉條紋圖譜
日期：2025-06-05 20:07
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摘要：
平晶干涉條紋圖譜
平面平晶：是以光波干涉原理為基礎(chǔ)，利用平晶的測量面與試件的被測量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來測量被測量面的平面度。
平面平晶：用于檢定量塊的研合性和平面度以儀器和量具的測量面、工作面的平面度，例如，平面光學(xué)零件、**平臺、平板、導(dǎo)軌、密封件等。亦可用于檢定高精度的平面零件。
平面平晶：特別適用于計量單位、實驗室作為標(biāo)準(zhǔn)平面和樣板。平晶干涉條紋圖譜：
平晶干涉條紋圖譜
