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31WII光柵攝譜儀 二米平麵光柵攝譜儀
- 產品名稱:31WII光柵攝譜儀 二米平麵光柵攝譜儀
- 產品型號:31WII二米平麵光柵攝譜儀
- 產品廠商:上光
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簡單介紹
二手31WII光柵攝譜儀 二米平麵光柵攝譜儀;二手上光31WII光柵攝譜儀 二米平麵光柵攝譜儀質量保證;二手閒置,存貨不多,數(shù)量有限,售完即止。應用於金屬合金(包括礦物石)的日常定性定量分析,純金屬和材料的什質鑒定(包括純烯土元素分析)。還可以應用於對混合烯土材料的直接分析,對烯有金屬和其他多譜線元素進行分析
31WII光柵攝譜儀 二米平麵光柵攝譜儀
的詳細介紹
31WII光柵攝譜儀 二米平麵光柵攝譜儀
二手閒置,存貨不多,數(shù)量有限,售完即止。
二手上光31WII光柵攝譜儀 二米平麵光柵攝譜儀質量保證
產品型號: 31WII 光柵攝譜儀 二米平麵光柵攝譜儀
生產廠商: 國產 上光
主要技術指標
狹縫寬度範圍: 0~0.3 毫米
狹縫寬度分度值: 0.001 毫米
狹縫寬度再現(xiàn)性: 0.001 毫米
狹縫有效高度: 10 毫米
外行尺寸: 2400X1500X700 毫米立方
重量:約 150 公斤
儀器特點和應用範圍
譜麵平直在 240 毫米譜板內譜線清晰。
三塊光柵可方便地互換使用(根據配備光柵選擇合適的色散和靈敏波段)。
有高清晰靈敏度。
使用操作過程(對光、預燃、曝光,板移)自動控製。
該儀器主要應用於金屬合金(包括礦物石)的日常定性定量分析,純金屬和材料的什質鑒定(包括純烯土元素分析)。還可以應用於對混合烯土材料的直接分析,對烯有金屬和其他多譜線元素進行分析。
主要技術指標
狹縫寬度範圍: 0~0.3 毫米
狹縫寬度分度值: 0.001 毫米
狹縫寬度再現(xiàn)性: 0.001 毫米
狹縫有效高度: 10 毫米
外行尺寸: 2400X1500X700 毫米立方
重量:約 150 公斤
儀器特點和應用範圍
譜麵平直在 240 毫米譜板內譜線清晰。
三塊光柵可方便地互換使用(根據配備光柵選擇合適的色散和靈敏波段)。
有高清晰靈敏度。
使用操作過程(對光、預燃、曝光,板移)自動控製。
該儀器主要應用於金屬合金(包括礦物石)的日常定性定量分析,純金屬和材料的什質鑒定(包括純烯土元素分析)。還可以應用於對混合烯土材料的直接分析,對烯有金屬和其他多譜線元素進行分析。
注:產品照片為實物拍攝,供參考;本公司保留對產品進行改進提高的權利,屆時恕不另行通知客戶;本產品配置以及實際運費以裝箱清單及貨運距離為準。包裝箱為定製實木結構,故在**性上有保障,但相應重量及運費要高一些,請各位理解。
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